E124型厚度測量儀專門用來測量較薄材料的厚度，如薄膜等。輕壓表盤頂部的壓桿使下面的測量頭兩面打開，將被測樣品插入兩測量面之間，然后放開壓桿。表盤上的長針指示出厚度的微小變化，短針則顯示較大的數值。

調零時，首先檢查壓腳表面是否清潔。然后將頂部的螺絲擰松，轉動表盤外圈，使長針指到零，此時短針也應指到零。擰緊螺絲。

測量厚度時，先看短針在小表盤上所轉過的圈數，該值乘以大表盤上的值，再加上長針讀數即可得到總的厚度值。

表盤外沿兩個黑色標記可以轉動，定位于上限下限的地方。

范圍          公制          英制

總范圍        5毫米 (5000微米) 0.25’’(250密耳)

每個刻度      0.002毫米（2微米）  0.0001’’ (0.1密耳)

大表盤        0.2毫米（200微米）  -0.010’’(10密耳)

圈        25            25

與測量帶一起使用E124：

TESTEX測量帶由兩層塑料薄膜組成：較軟的薄膜層上可記錄粗糙表面的壓痕；較硬薄膜層50微米厚（2密耳），與軟層緊貼一起。

124厚度儀自動減除測量帶薄膜厚度的測量方法：

1）確保124的測頭表面清潔。將頂部的螺絲擰松，順時針轉動表盤外圈直到長針指向150微米（15標記）處，擰緊螺絲；

2）取1片TESTEX測量帶貼在被測粗糙度表面，用帶圓頭的小棒在測量帶的圓型區域反復摩擦，留下拓痕；

3）將留下拓痕的測量帶放在124的兩個測頭之間，然后讀表盤的讀數，讀數是長針直接顯示的，這個讀數就是所測表面的粗糙度值。